X 熒光光譜儀

X 熒光光譜儀EDX8000L 利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶

瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中 Na2O、MgO、Al2O3、CaO、

Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba 等化學

成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效同時，為了更好的利用 X 熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。EDX8000L 型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn 等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe 等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協會等古文物收藏部門都是其用戶。

二、產品配置清單

詳細配置信息：

一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：(1) X 光管 (2) SDD 電制冷半導體探測器(3) 放大電路 (4) 高壓系統(5) 高清晰攝像頭 (6) 真空泵(7) 三維自由超大樣品腔：（600×600×1000mm3）二、軟件及其他：X 熒光光譜儀成分分析軟件 V3.02.1 計算機、打印機各一臺計算機（筆記本電腦）、打印機（彩色噴墨打印機）2.2 資料：儀器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。2.3 標準附件(1) 準直孔：包括Ф3.0mm、Ф6.0mm、Ф8.0mm 各一個，共 3 個；

三、技術參數

一.技術指標：

1.1 分析元素范圍：Na-U1.2 測量精度：0.05%（含量大于 96%的樣品）1.3 高壓：5kV-50kV1.4 管流：50μA-1000μA1.5 能量分辨率：145±5eV1.6 測量時間：60s-300s1.7 計數率：1300-10000cps

二.工作環(huán)境要求：2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃2.2 環(huán)境相對濕度：<70%